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半导体参数测试系统 Semiconductor Parameter Test System

型号规格 Fluxim

仪器负责人 胡子阳

存放地点 龙赛理科楼北楼113

应用范围 半导体多功能载流子迁移率测量系统，可以进行多种参数的测量，包括I-V曲线、瞬态光电压、瞬态光电流、时间延迟CELIV、暗态曲线、电荷提取、开路电压衰减、双瞬态光电流、电流脉冲、瞬态电致发光等等。时间分辨率：16 ns；电流分辨率；<100 pA；光谱范围：350-700nm；频率范围：10 mHz-10 MHz。