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表面形貌与成分分析测试系统 Scanning Electron Microscope（SEM）

型号规格 SU-70

仪器负责人 朱久军

存放地点 龙赛理科楼北楼109

应用范围 陶瓷、金属、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌、粒度、变形层等的观察；材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定，金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定；进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的点、线、面分布分析。