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原子力显微镜 Atomic Force Microscope

型号规格 Asylum ResearchCypher S

仪器联系人 陈达

存放地点 龙赛理科楼北楼108

应用范围 （1）材料性能测试：材料表面的3D形貌、表面粗糙度和高度等信息，而且可以获得材料表面物理性质分布的差异，例如摩擦力、阻抗分布、电势分布、介电常数，压电特性、磁学性质等。（2）半导体器件的基本分析：表面阻抗、电势分布、介电常数、掺杂浓度。